2018年10月8-12日，由中国真空学会、中国电子学会电子材料学分会主办，中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所纳米真空互联实验站承办的“第七届中国二次离子质谱学术会议”（The 7th Chinese National Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry，SIMS-China VII）在苏州成功举行。查良镇教授被大会组委会授予“中国二次离子质谱终身成就奖”。
二次离子质谱分析技术是目前应用最广泛的表面分析技术之一。查良镇教授从事质谱学领域工作近六十年, 取得过多项成果, 近四十年来，一直致力于二次离子质谱科学研究与人才培养，大力发展SIMS技术在中国的应用，推进与国际SIMS领域的深入交流，是中国二次离子质谱学科的一位开拓者，也是中国二次离子质谱学术会议的倡议者和创办者。
会议组委会特邀清华大学党委书记陈旭教授与苏州纳米所杨辉所长一起为查良镇教授颁奖。颁奖后与大会主席、苏州纳米所丁孙安研究员丁孙安研究员、台湾清华大学凌永建教授、香港科技大学翁禄涛教授一起合影留念。
本次会议为我国二次离子质谱界提供了学术研讨、技术交流与合作的平台，展示了最新的研究成果，有力地促进了二次离子质谱技术在各领域的应用。
